جستجو

تبلیغات



طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy)

    طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy) گونه‌ای طیف‌سنجی کمی ا‌ست که در آن با تاباندن پرتو ایکس و اندازه گیری همزمان تعداد الکترون آزاد شده در فاصله 1 تا 10 نانومتری از سطح، و انرژی جنبشی این الکترون ها، طیف‌هایی بدست می‌آید که بیانگر برخی ویژگی‌های ماده است. این روش نیاز به خلا بسیار بالا دارد.

    از آنجا که انرژی پرتو ایکس تابانده شده مشخص است، می‌توان انرژی الکترون گسیل ‌شده را بوسیله قانون کار رادرفورد بدست آورد:

     

     

     

    که Ebinding انرژی پیوند الکترون، Ephoton انرژی پرتو ایکس تابانده شده، Ekinetic انرژی جنبشی الکترون (بوسیله دستگاه ویژه ای اندازه‌گیری می‌شود) و ϕ تابع کار طیف‌سنج (و نه ماده) است.

    شناسایی فرمول تجربی ، شناسایی ناخالصی های روی سطح ، پروفایل های ترکیبی توزیع عنصری  در فیلم های لایه نازک از کاربرد های عمده ی این روش می باشند.


    این مطلب تا کنون 33 بار بازدید شده است.
    ارسال شده در تاریخ سه شنبه 30 شهريور 1395
    منبع
    برچسب ها : پرتو ,ایکس ,الکترون ,انرژی ,طیف‌سنجی ,پرتو ایکس ,ایکس تابانده ,photoelectron spectroscopy ,طیف‌سنجی فوتوالکترون ,فوتوالکترون پرتو ,
    طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (X-ray photoelectron spectroscopy)

تبلیغات


    تبلیغات شما در این قسمت

پربازدیدترین مطالب

آمار امروز چهار شنبه 9 فروردين 1396

تبلیغات

محل نمایش تبلیغات شما

تبلیغات

محل نمایش تبلیغات شما

آخرین کلمات جستجو شده

تگ های برتر